테라헤르츠파 분광기술 이용하여 OLED 디스플레이 불량 검사로 새로운 응용 분야 개척 빛과 전파의 중간영역에 존재하며 1초에 1조 번 진동하는 ‘테라헤르츠파’는 직진성과 침투성을 가지면서도 에너지가 낮아 물질을 파괴하지 않고 인체에 무해한 성질을 가진다. 그래서 테라헤르츠파는 ‘꿈의 주파수’라 불리며 의료, 산업, 국방 등 많은 분야에서 사용되고 있다. 한국과학기술연구원(KIST)은 전영민 박사(센서시스템연구센터), 서민아 박사(센서시스템연구센터, KU-KIST 융합대학원) 연구팀이 고려대학교 주병권 교수(전기전자공학부) 연구팀과 공동으로 테라헤르츠파 분광기술을 이용하여 OLED 구성물질의 투과 특성을 실시간·비파괴로 분석할 수 있는 기술을 개발했다고 밝혔다. 백라이트가 필요한 LCD와 달리 유기발광다이오드(OLED)는 스스로 발광하는 성질이 있어 전력소모가 적고, 디스플레이의 박막화 및 경량화가 가능하다. 또한 유연성이 있어 접거나 돌돌 마는 형태 등으로 활용할 수 있는 장점이 있으나 제조원가가 비싸다는 단점이 있다. 제조 중간단계에서 결함을 찾아 수리하여 수율을 높인다면 OLED 디스플레이의 가격 경쟁력을 높일 수 있는데, 이를 위해서는 OLED 디스플레
[첨단 헬로티] 식품 품질 및 안전 상태를 실시간 추적확인 가능한 저가의 필름형 센서태그 개발 한국식품연구원 최성욱 박사 연구팀은 식품 포장지 내부의 습도, 가스 및 온도 등을 포장지 훼손 없이 외부에서 검사할 수 있는 기술을 개발하였다고 20일 밝혔다. 연구팀은 유통 중에 부주의한 취급이나 포장지를 뚫는 벌레 등에 의한 포장지 훼손에 따른 식품의 변질여부를 비파괴적인 방법으로 실시간 확인이 가능한 기술개발에 성공하였다. 현행 식품 포장지 결함검사는 생산과 제조단계에서는 버블테스트, 압력변화테스트, 형광물질테스트 등 다양한 방법으로 접합력과 미세구멍(핀홀) 형성유무를 검사하여 포장불량을 검출할 수 있지만, 유통과 소비 전 단계에서 식품 포장재 훼손에 따른 식품 품질 또는 안전수준 변화를 확인할 수 있는 방법은 없었다. 이번에 연구팀이 개발한 기술은 식품 포장지 내부의 습도변화를 인식할 수 있는 센서태그를 위치시키고 포장지 외부에서 센서태그의 신호를 읽어내는 방법을 통해 메세 핀홀의 발생에 따른 포장체 내부의 기체조성 변화를 실시간으로 파악하여 제품의 품질 또는 안전 수준의 변화여부를 예측할 수 있게 한 것이다. 이를 위하여 포장지를 투과할 수 있는 테라헤르츠
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