▲NI의 고집적도 소스 측정 장치(SMU) PXIe-4163 [첨단 헬로티] 내쇼날인스트루먼트(이하 NI)가 고집적도 소스 측정 장치(SMU) PXIe-4163을 발표했다. 이 제품은 테스트 RF, MEMS, 혼합 신호 및 기타 아날로그 반도체 부품을 테스트하기 위한 기존의 NI PXI SMU보다 6배 향상된 DC 채널 집적도를 제공한다. NI의 글로벌 세일즈 및 마케팅 부사장인 에릭 스타크로프(Eric Starkloff)는 "5G, IoT(사물 인터넷), 자율주행차처럼 매우 획기적인 기술로 인해, 반도체 생산업체는 개발에서 양산에 이르기까지 더 효율적인 반도체 테스트 방식을 발전시키고 도입해야 하는 부담을 지속적으로 안고 있다”라고 말하고, “반도체 테스트는 NI가 전략적으로 주력하는 분야이다. 당사는 반도체 제조업체가 주요 당면 과제를 해결할 수 있도록 소프트웨어 플랫폼과 PXI의 기능을 확장하고 있으며, 이 최신 PXI SMU가 그 대표적인 예이다"라고 밝혔다. 반도체 제조업체는 양산 라인의 비용과 사용 공간을 활용해 스루풋 및 성능에 대한 반도체 테스트 시스템(STS)을 빠르게 도입하고 있다. 새로 출시된 PXIe-4163 SMU
[첨단 헬로티] 국내 연구진이 내쇼날인스트루먼트(이하 NI)의 솔루션을 활용해 5G, B5G 통신 시스템에 적용 가능한 '실시간 유연이중(Real-Time Flex-Duplex Radio)' 기술을 세계 최초로 개발했다. 연세대학교 김성륜 교수, 채찬병 교수 연구티은 지난 12월 4일부터 8일까지 싱가폴에서 개최된 '국제전기전자공학회 글로브컴 2017(IEEE GLOBECOM 2017)'의 NI 부스에서 이 기술을 선보였다. ▲실시간 유연이중 기술을 개발한 연세대 연구팀 기념 사진 연구팀은 5G, B5G에서 6GHz 이하 스펙트럼이 중요하다는 점을 놓치지 않았다. 6GHz 이하 스펙트럼에서도 기존 전파 상황을 셍싱해 사용되지 않는 대역을 파악하고 상황에 따라 전이중, 반이중 등 여러 듀플렉싱 기술을 유연하게 활용하는 주파수 자원 공유 기반 실시간 다중계층 유연이중 기술 개발에 성공한 것. 이 기술의 시연을 위해 연구팀은 센싱된 채널 정보를 멀리 위치한 서버로 전송해 확률지도를 생성했고 이 연산 결과를 다시 전산 시스템에 전송받아 유연이중 기술을 적용했다. 특히 이번 개발과 시연을 위해 채널 센싱에는 NI USRP-RIO를, 실제 송수신에는 NI PXI 기반
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