헬로티 –매일 만나는 첨단 산업, 경제, IT 소식

최신뉴스 NXP, 4채널 듀얼 편광 아날로그 빔포머 5G 신뢰성 높여

5G mmWave 패널에 높은 수준의 통합 가능해 OEM 제조업체의 시스템 크기 및 비용 절감 NXP 반도체는 5G 포트폴리오에 새로운 MMW9012K 및 MMW9014K 4채널 듀얼 편광 아날로그 빔포머와 안테나 시스템 개발자 키트를 추가했다고 밝혔다. NXP의 실리콘 게르마늄(SiGe) 공정을 통해 개발된 아날로그 빔포머는 듀얼 편광으로 5G 신뢰성을 높였다. 높은 높은 수준의 통합으로 5G 기지국 크기와 비용을 절감하고, 5G mmWave 솔루션의 현재 소비량을 감소시킨다. 또한, 안테나 개발자 시스템을 통해 OEM은 패널 설계를 가속화해 5G 안테나 시스템을 신속하게 구축시킨다. 5G mmWave 솔루션은 일반적으로 높은 주파수와 대역폭에 적절한 밀집된 도시 지역에 배치되는데 더 높은 비트 전송률에 대한 소비자의 니즈를 충족시키기에 적합하기 때문이다. 그러나 주파수가 높아지면 mmWave 신호가 커버할 수 있는 거리가 감소한다. 듀얼 편광 4채널 아날로그 빔포머는 사용자에게 동시 빔을 정밀하게 조정·제공해 5G mmWave 배치에서 흔히 발생하는 전파 손실을 줄이고 전반적인 시스템 신뢰성을 향상시킨다. MMW9012K와 MMW9014K는 5G 인프라의

서재창 기자

2022-06-20 10:13

최신뉴스 [영상][NI Week 2019] NI, 5G mmWave 반도체 웨이퍼 프로브 테스트 솔루션 시연

[첨단 헬로티] 내쇼날인스트루먼트(NI)가 미국 텍사스주 오스틴에서 열린 ‘NI Week 2019’ 둘째 날인 5월 21일, 5G 밀리미터파(mmWave) 웨이퍼 프로브 테스트 솔루션을 공개하고 시연도 성공적으로 마쳤다. 5G mmWave 웨이퍼 프로브 테스트 솔루션은 도쿄일렉트론(Tokyo Electron), 폼팩터(FormFactor), 레이드 애쉬만(Reid-Ashman)과 공동 개발한 솔루션이다. ▲ 5G mmWave 웨이퍼 프로브 테스트 솔루션 시연 영상 <영상 : 김동원 기자> NI는 반도체 제조사들이 이 솔루션을 사용할 경우 5G mmWave IC 관련 리스크와 비용 부담을 줄이면서 시장 출시 기간을 앞당길 수 있는 방안을 마련할 수 있다고 소개했다. 5G mmWave 웨이퍼 프로브 테스트 솔루션은 새롭게 정의된 mm Wave 주파수로 인한 문제점을 해결하고자 개발됐다. 실제로 mm Wave 주파수로 인해 프로브 인터페이스 보드(PIB), 프로브 타워, 프로브 카드로 구성되는 기존 프로브 기술의 신호 무결성이 어려워지고 있다. 이 문제를 해결하기 위해 NI와 도쿄일렉트론, 폼팩터, 레이드 애쉬만은 ▲신호 경로 단순

김동원 기자

2019-05-22 16:28