최신뉴스 NI, 세미콘 2018서 반도체 테스트 통합 솔루션 선보인다

▲NI가 세미콘 2018서 선보이게 될 반도체 테스트 통합 솔루션 [첨단 헬로티] 내쇼날인스트루먼트(이하 NI)가 1월 31일부터 2월 2일까지 코엑스에서 개최되는 세미콘 코리아에 참가해 반도체 테스트 통합 솔루션과 데모를 선보일 예정이다. 한국 NI는 이번 전시에서 반도체 테스트 비용을 절감하고, 테스트 시간을 단축하며, 업계 최고 수준의 측정 정확성을 제공하는 최신 솔루션들을 소개한다. NI의 플랫폼 기반 방식은 특성화에서 양산 테스트에 이르기까지 테스트 전 과정에 걸쳐 전 과정에 걸쳐 고성능과 효율성을 보장하며, 각종 문제점들을 손쉽게 해결해 주는 확장형 솔루션을 제공한다. 이번 전시회에서 소개하는 PMIC(Power Management IC) 테스트 솔루션은 모바일, 웨어러블, IoT 등의 저전력 디바이스를 위한 특성화 테스트를 제공한다. 이 제품은 NI PXI SMU 기반의 자동화 테스트를 통해 효율을 극대화시킬 수 있다. 또한 NI의 대표적 솔루션인 NI STS(Semiconductor Test System)는 반도체 양산 테스트 환경에서 사용하는 소프트웨어 및 하드웨어 통합 플랫폼이다. 1,500개 이상의 모듈형 계측기를 기반으로 유연한 테스트

• 정가현 기자
• 2018-01-29 15:07