스마트폰, 인공지능 메인 칩에 전력을 안정적으로 공급하고 잡음을 제거하는 초소형 전력관리 반도체가 국내 연구진에 의해 개발됐다. 전력 관리 성능은 세계 최고 수준을 기록하면서도 크기는 기존보다 작아져, 전압 변동이 심한 AI 반도체와 잡음에 민감한 6G 통신칩 등 차세대 시스템온칩(SoC) 개발에 기여할 전망이다. UNIST 전기전자공학과 윤희인 교수 연구팀은 초소형 하이브리드 전력관리 반도체 LDO(Low Dropout Regulator)를 개발했다고 29일 밝혔다. LDO는 메인 반도체에 공급되는 전압을 일정하게 유지하고 직류 전압에 섞인 교류 잡음을 걸러주는 역할을 한다. 스마트폰에서 게임 앱을 갑자기 실행하거나 종료할 때 전류 사용이 급격히 바뀌면 전압도 요동치는데, LDO가 이를 안정화한다. 연구팀이 개발한 LDO는 아날로그 회로 기반에 디지털 회로 장점을 더한 하이브리드 구조로, 전압 안정화 성능과 잡음 억제 성능을 동시에 확보했다. 시험 결과, 99mA 전류 변화 상황에서도 출력 전압 출렁임을 54mV 수준으로 억제하고 667나노초 만에 전압을 복구했다. 잡음 억제 성능(PSRR)은 –53.7dB(100mA 부하, 10kHz 기준)로, 주파수 1
"총체적 검증이 가능해 제품 문제점을 효과적으로 파악할 것" 큐알티가 6일인 오늘 시스템 반도체 전용 Logic HTOL(High Temperature Operating Life, 고온동작 수명시험) 설비를 증설한다고 밝혔다. 큐알티는 최근 자동차와 가전제품에 전력관리반도체(PMIC), 애플리케이션 프로세서(AP), 디스플레이구동칩(DDI) 등 시스템 반도체 수요가 늘어나고 시장이 확대됨에 따라, Logic HTOL 장비 인프라를 강화해 선제적으로 대응하겠다는 전략이다. HTOL은 반도체 수명 평가 방법 중 하나로, 특정 온도와 최대 전압 조건 아래서 실제 제품을 동작시켜 제품이 얼마나 긴 시간 동안 정상적으로 작동하는지를 확인하는 시험이다. 반도체들은 대부분 1000시간 이상의 검증을 거치고 나오기에 일반적인 상황에서는 10년 동안 문제없이 동작을 해야 한다. 시스템 반도체의 초기 고장 영역은 물론, 우발 및 마모 고장 영역 등 총체적 검증이 가능해 제품의 문제점을 효과적으로 파악하기 용이하다. 큐알티가 이번에 집중 투자하는 설비는 온도 챔버다. 온도 챔버는 제품의 동작 조건을 시뮬레이션 하기 위한 전원 인가 장치와 동작 수명을 가속하는 역할을 한다. 큐알
MCU·PMIC 등 차량용 반도체 개발 프로세스 구축…"사업화 검토 단계" LG전자가 차량용 반도체 설계와 구현, 검증 등 개발 프로세스 전반에 대한 기술을 확보했다. 글로벌 차량용 반도체 부족 사태 장기화에 대응해 자체적인 개발 역량을 확보한 LG전자는 향후 사업성을 검토해 차량용 반도체 사업 내재화를 추진한다는 방침이다. LG전자는 최근 독일 시험·인증 전문기관 'TUV 라인란드'(TUV Rheinland)로부터 차량용 반도체 개발 프로세스에 대한 'ISO 26262' 인증을 받았다고 5일 밝혔다. 이 인증은 차량에 탑재되는 전기·전자 장치의 시스템 오류로 인한 사고를 방지하기 위해 제정된 국제표준화기구(ISO) 자동차 기능 안전 국제표준규격이다. LG전자는 전자제어장치(ECU)와 마이크로컨트롤러유닛(MCU), 전력관리반도체(PMIC) 등 차량용 반도체 개발 프로세스를 구축했다. 특히 이번 인증에서 자동차 기능 안전성 가운데 최고 수준인 '자동차안전무결성수준'(ASIL) D등급의 부품 개발 능력을 인정받았다고 LG전자는 소개했다. ASIL은 사고의 심각도와 발생빈도, 제어 가능성 등에 따라 최저 A등급에서 최고 D등급까지 4단계로 분류되는데 D등급은 1억