엘파인(Lfine)이 머신비전 분야의 다양한 검사 요구에 대응하기 위해 새로운 광원 시리즈 3종을 출시했다. 엘파인이 이번에 선보인 LPL SERIES는 선명한 패턴 표현이 필요한 정밀 검사 환경에서 안정적인 품질을 제공하는 패턴 프로젝터 조명이다. 3W·10W급 고휘도 LED를 적용해 밝고 균일한 조도를 확보하며, 패턴의 가장자리를 선명하게 재현해 패턴 기반 알고리즘의 정확도를 높인다. C-마운트 호환 설계로 2/3인치 센서 기반 광학 장비와 함께 사용할 수 있으며, Grid·Line·Dot 등 기본 패턴 외에도 맞춤 제작이 가능하다. 다파장 색상 옵션(R·G·B·W)을 제공해 검사 대상 물질의 반사 특성 및 대비 조건에 최적화된 색상 선택이 가능하며, 금속·플라스틱 표면 결함 검사와 높이·단차·치수 측정 같은 비접촉 정밀 측정에 활용된다. LPB SERIES는 기존 LPB 조명의 한계를 개선한 집광 파워 LED 조명으로, 렌즈와 파워 LED를 적용해 기존 LPB 대비 2배 이상 밝은 조도를 구현했다. 효율적인 열관리 설계를 통해 출력 성능을 더욱 향상시켰으며, 방열판 구조로 발열을 효과적으로 억제해 장시간 사용에서도 성능을 유지한다. 60mm부터 1920
엘파인이 동축 낙사 조명 'LCRG SERIES'를 출시했다. LCRG SERIES는 고스트 현상 방지 및 고해상도 이미지 추출이 가능한 동축 낙사 조명이다. 동축 낙사 조명은 일반적으로 LED 어레이에서 확산된 빛을 카메라 렌즈와 동일한 광축으로 정렬하기 위해 HALF MIRROR를 사용한다. 기존의 조명은 고스트 현상이 발생할 수 있는 위험성이 존재한다. 엘파인은 고해상도 이미지를 요구하는 시장 수요에 고해상도 카메라를 지원하며, 고스트 현상도 방지하는 동축 낙사 조명을 개발했다. 동축 낙사 조명의 HALF MIRROR는 고정밀 광학 GLASS를 사용해 고스트 이미지 방지 및 고해상도 이미징을 구현한다. 또한 특별한 조명 기술로 높은 출력과 균일성을 확보한다. 엘파인은 'LCRG SERIES' 외에도 다양한 신제품을 출시했다. 엘파인의 SWIR SERIES는 다양한 파장대의 SWIR 조명을 제공하여 특정 응용 분야에 맞는 최적의 조명 솔루션을 제공한다. 이러한 SWIR 조명은 가시광선보다 더 멀리서 비춰지는 물체나 재료의 정보를 포착할 수 있어 정밀 검사 및 분석에 매우 유용하다. SWIR KIT는 SWIR(Short-Wave Infrared) 영역을 쉽
엘파인이 동축 낙사 조명 'LCRG SERIES'를 출시했다. LCRG SERIES는 고스트 현상 방지 및 고해상도 이미지 추출이 가능한 동축 낙사 조명이다. 동축 낙사 조명은 일반적으로 LED 어레이에서 확산된 빛을 카메라 렌즈와 동일한 광축으로 정렬하기 위해 HALF MIRROR를 사용한다. 기존의 조명은 고스트 현상이 발생할 수 있는 위험성이 존재한다. 엘파인은 고해상도 이미지를 요구하는 시장 수요에 고해상도 카메라를 지원하며, 고스트 현상도 방지하는 동축 낙사 조명을 개발했다. 동축 낙사 조명의 HALF MIRROR는 고정밀 광학 GLASS를 사용해 고스트 이미지 방지 및 고해상도 이미징을 구현한다. 또한 특별한 조명 기술로 높은 출력과 균일성을 확보한다. 이 동축 낙사 조명은 CUBE TYPE과 HALF MIRROR TYPE 두 종류로 구성됐다. 헬로티 함수미 기자 |
검사 조명 면적 확장해 검사 결과 정확성 높여 엘파인이 주광원의 출사 경로의 테두리에 보조 광원을 설치하여 검사 대상물로의 검사 조명 면적의 확장하여 검사 결과의 정확성을 향상시킬 수 있는 표면 검사 장치를 개발했다. 기존의 자동화한 검사시스템의 단점을 보완했다는 평가를 받고 있다. ㈜엘파인이 검사 조명 면적의 확장이 가능한 표면 검사 장치를 개발해 업계의 주목을 받고 있다. 이 제품은 주광원의 출사 경로의 테두리에 보조 광원을 설치하여 검사 대상물로의 검사 조명 면적의 확장하여 검사 결과의 정확성을 향상시킬 수 있는 검사 장치다. 일반적으로 모든 제품의 생산 공정에서는 제조 공정 이후에 완성된 제품의 완성도를 평가하기 위해 결함 검사 공정을 거치게 된다. 이때 결함이란 제품의 특성을 저해하는 모든 요소를 통칭한다고 할 수 있으며, 매우 작아 육안으로는 보이지 않는 것으로부터 육안으로 확인할 수 있는 크기까지 다양한 크기의 결함이 존재할 수 있다. 비교적 큰 물체의 외형상 결함의 검사는 통상 임의로 샘플을 추출해 작업자가 직접 육안으로 제품을 검사하는 방식으로 이뤄지며, 작은 물체의 경우도 현미경 등을 이용해 작업자가 검사할 수도 있다. 그러나 이 경우 생산
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