기존 모델 대비 20배 빠른 속도·절반 크기 혁신 구현 0.03nm 파장 분해능·넓은 측정범위로 정밀시험 지원 한국요꼬가와전기가 광 디바이스 및 광 모듈 생산 시험 시장을 겨냥한 신형 광 스펙트럼 분석기(OSA) ‘AQ6361’을 선보였다. 이번 신제품은 데이터센터 확장과 AI 기술 확산으로 급증하는 광 디바이스 수요에 대응하기 위한 전략적 제품이다. 최근 레이저 다이오드, 광 트랜시버, 광 증폭기 등 고성능 광 부품의 시장 수요가 빠르게 늘면서 생산 현장에서는 보다 정밀하고 효율적인 측정 솔루션이 필요해졌다. 특히, 측정 속도와 공간 효율성은 기업들이 경쟁력을 확보하는 데 중요한 요소로 부각되고 있다. ‘AQ6361’은 기존 베스트셀러 모델 ‘AQ6370E’를 기반으로 성능을 대폭 향상시켰다. 측정 속도는 최대 20배 빨라졌으며, 본체 크기는 절반 이하로 줄여 협소한 공간에서도 최적의 설치 환경을 제공한다. 이와 같은 고속 측정과 소형화는 복잡해지는 광 모듈 생산 라인에서 작업 효율과 공간 활용도를 크게 높여준다. 또한 0.03nm의 높은 파장 분해능, 1200~1700nm의 넓은 측정 범위, 73dB 수준의 우수한 미광 억제 성능을 갖춰 다양한 광 디바이
안리쓰가 9월 24일, 다채널 광모듈에 대한 보다 효율적인 평가를 지원하기 위해, MP2100A의 후속 제품으로 새로운 BERTWave MP2100B를 출시한다고 발표했다. 이번에 새로 개발된 BERTWave MP2100B는 동시적 BER 계측 및 아이 패턴 분석을 지원하며, 광 통신 시스템에서 사용되는 광모듈과 광학 장비를 평가하는 데 필요한 모든 항목을 단일 세트로 계측할 수 있다. BER 계측 및 아이 패턴 분석에 두 가지 계측 장비가 필요한 기존 시스템과 달리, 한 대의 MP2100B 세트로 필요한 모든 평가 항목을 지원할 수 있으므로 최대 40%까지 장비 비용이 절감된다. 또한 이번의 새로운 릴리스에 광학 스위치와 광 감쇠기를 옵션 액세서리로 추가하면 다채널 광모듈 및 광학 장비를 평가하는 데 필요한 모든 기능을 갖춘 완전한 계측 솔루션이 된다. 광모듈 및 광학 장비 제조 시장에서 필요로 하는 더욱 빠른 계측 속도를 지원하기 위해 최대 150ksample/s의 속도를 제공하는 새로운 고속 샘플링 모드가 레거시 모델보다 최대 1.5배 빠르게 아이 마스크 테스트 등과 같은 아이 패턴 분석을 수행한다. 아울러 MP2100B 내장 BERT(비트 오류율 테스
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