인하대학교는 최근 수원 컨벤션센터에서 ‘2025 테스트기술 워크숍(Test Technology Workshop 2025)’을 성황리에 개최했다고 31일 밝혔다.

 

이번 워크숍은 인하대 반도체특성화대학사업단과 한국반도체테스트학회가 공동 주관했으며, 국내 주요 반도체 기업과 연구기관의 전문가들이 참석해 반도체 테스트 및 패키징 분야의 최신 기술 동향과 산업 전망을 공유했다.

 

올해 워크숍에서는 ▲첨단 패키징 환경에서의 테스트 기술 고도화 ▲AI 반도체 및 칩렛(Chiplet) 구조 확산에 따른 신뢰성 확보 ▲차세대 반도체 공정과 테스트 자동화 기술 등 산업계 주요 이슈가 집중적으로 다뤄졌다.

 

 

박준용 경희대 교수, 임종수 아주대 교수, 김현돈 삼성전자 PL, 정우식 SK하이닉스 부사장 등이 발표자로 참여해 최신 연구 동향과 산업 트렌드를 공유했으며, 이어진 세션에서는 기술적 과제와 향후 발전 방향에 대한 심도 있는 토론이 진행됐다.

 

특히 이번 워크숍에서는 한국반도체테스트학회 표준위원회가 주도한 메모리 테스트(JETEC) 표준화 문서 ‘SPS-KTC001(2025)’이 처음으로 공개됐다.

 

해당 표준화 작업은 2021년부터 삼성전자, SK하이닉스, Teradyne, Advantest 등 국내외 16개 기업과 대학이 공동 참여해 추진 중이며, SK하이닉스 정우식 부사장이 챔피언, 인하대 이영우 교수가 간사로 활동하고 있다. 이 표준화 문서의 공개는 국내 메모리 반도체 테스트 표준화를 향한 의미 있는 성과로 평가된다.

 

조명우 인하대 총장은 “테스트·패키징 기술은 반도체 산업 경쟁력을 좌우하는 핵심 분야”라며 “이번 워크숍을 통해 학생들이 산업 현장을 직접 이해하고 실무 중심의 통찰을 얻는 계기가 됐길 바란다”고 말했다.

 

헬로티 이창현 기자 |